Metrologia: i vetri piano-paralleli e i proiettori di profili

I vetri piano-paralleli sono quegli strumenti di metrologia d’officina che rivelano le minime differenze di altezza, rispetto a un campione, attraverso l’osservazione delle frange di interferenza. Il principio sul quale si fondano è il seguente: un raggio di luce gialla, risultante dalla sovrapposizione del riflesso e del rifratto ha una intensità che dipende dallo spostamento di fase dei due raggi componenti, spostamento collegato anche alla lunghezza in questione, la quale può ritenersi praticamente uguale a due volte il diametro. I proiettori di profili, al contrario, consistono in dispositivi ottici che proiettano sopra uno schermo un’immagine dell’oggetto che è ingrandita in modo conveniente: in questa maniera, si può effettuare una misurazione o un paragone con una sagoma campione, di dimensioni ingrandite rispetto a quelle effettive dell’oggetto.

Per ottenere la necessaria sovrapposizione dell’immagine sul disegno ingrandito del contorno da controllare si provvede il supporto dell’oggetto o lo schermo che porta il disegno di opportune slitte. Le sagome che rappresentano i profili ingranditi da collocare sullo schermo si disegnano, nella maggior parte dei casi, con un doppio contorno in modo da tenere conto delle tolleranze ammesse nelle varie parti del contorno stesso. Il pezzo sarà giusto quando il profilo della sua proiezione sullo schermo sarà compreso tra il disegno-sagoma limite superiore e quello limite inferiore. Gli strumenti che controllano mediante ingrandimento degli oggetti da misurare, inoltre, sono diversi a seconda delle misure delle lunghezze e per il controllo delle sagome.

Sono dotati di microscopio e di un dispositivo per l’illuminazione di oggetti opachi. Le categorie specifiche sono quindi due, vale a dire gli strumenti con lo spostamento del piano che porta l’oggetto e quelli con lo spostamento del microscopio. Nel primo caso, infine, gli errori possono provenire dal cattivo allineamento della graduazione che si controlla, rispetto alla guida di spostamento del piano, mentre nel secondo dalle possibili variazioni nella direzione dell’asse del microscopio.